Nasze konfigurowalne systemy PXIe pozwalają wyjść poza standard

Rynek specjalistycznych urządzeń do testowania i pomiarów znacznie się rozszerzył, stwarzając zapotrzebowanie na precyzyjne testy na każdym etapie projektowania i rozwoju. Wśród preferowanych platform testowych są: PCI eXtensions for Instrumentation (PXI) i jej rozwinięcie, PXI Express (PXIe). Standardy te przyjęły się w różnych branżach, w tym w lotnictwie, motoryzacji i elektronice powszechnego użytku.

Firmy o specyficznych wymaganiach projektowych często zmagają się z pełnym wykorzystaniem zalet standardów PXI i PXIe.

nVent SCHROFF wykorzystuje standardowe elementy składowe, takie jak moduły funkcjonalne, zasilacze i obudowy mechaniczne, aby dostosować systemy PXI i PXIe do wymagań specyficznych zastosowań.

Możliwości dostosowania obudowy PXIe obejmują oznakowania marki, korekty mechaniczne, bloki modułowe i obsługę niestandardowego oprogramowania.

Dostosowywanie PXI i PXIe na wyższym poziomie
PXI (PCI eXtensions for Instrumentation) i PXIe (PXI Express) to standardy otwarte, które umożliwiają użytkownikom precyzyjne dostosowanie systemów testowych i pomiarowych do konkretnych potrzeb, zapewniając równowagę między elastycznością i efektywnością.

Zalety niestandardowych systemów testowych PXI i PXIe:

• Łatwa integracja
• Skalowalność
• Odporna i zdalna topologia
• Redukcja ryzyka
• Elastyczność
• Niezawodność

Dowiedz się więcej o zaletach i opcjach dostosowywania systemów PXIe (PCI eXtensions for Instrumentation) oferowanych przez nVent SCHROFF, czytając nasz oficjalny dokument.

Dostosowywana architektura systemu umożliwia firmom dostosowywanie systemów PXI i PXIe do wymagań konkretnych zastosowań. Wybór odpowiedniego partnera zapewnia efektywne dostosowywanie i oszczędność kosztów.

nVent SCHROFF służy wsparciem inżynieryjnym oraz swoją wiedzą i doświadczeniem w całym procesie projektowania i integracji, w tym w projektowaniu i analizie obwodów, integracji i testowaniu systemów oraz dostosowywaniu oprogramowania sprzętowego.
Zobacz cały artykuł w witrynie ElectronicDesign.com.