Universeel testsysteem

Universeel testsysteem voor duurzaamheidstests van verschillende elektrische componenten, zoals camera- en radarsystemen, voor de automobielindustrie.

Uitdaging

Voor de op maat gemaakte elektronica en de unieke eisen van de klant was een complete systeemoplossing vereist. De systemen moesten dienen als testbank en moesten worden ontworpen als draagbare en stapelbare desktopcases of als subracks die in een 19-inch rek konden worden gemonteerd. De testbank bevat ook een systeem dat alleen dient te functioneren als een voedingssysteem dat stroom levert aan de andere testonderdelen en als controle-unit voor het geïntegreerde scherm en toetsenbord. De hardware in elke testsleuf moest onafhankelijke configuratie met herbruikbare hardwaremodules mogelijk maken. Daarnaast was de klant op zoek naar een complete leverancier van oplossingen die dit complexe systeem kon samenstellen en testen.

Oplossing

Om aan de eisen van de klant te voldoen, werd er gekozen voor de zeer robuuste nVent SCHROFF 19-inch Comptec-behuizing. Het biedt namelijk de mogelijkheid om een 19-inch subrack in een 19-inch behuizing te houden en is daarom uiterst flexibel. De subrack bestaat uit twee secties. Een deel is een 19-inch subrack met een montageplaat die de niet-standaard testsleuven bevat. Het tweede deel zijn de testsleuven zelf, die afzonderlijke vervangbare en herbruikbare modules bevatten. Er is gekozen voor een actieve koeloplossing met krachtige ventilatoren in elke testsleuf om de gevoelige elektronica te beschermen tegen oververhitting. De vereisten van de assemblage en de complexe testprocedure kunnen ook worden geïmplementeerd dankzij interne expertise.